SPIE Advanced Lithography + Patterning
February 22 - 26, 2026 | San Jose, California, USA
From materials to metrology: pushing the limits of lithography
At [NL] SPIE Advanced Lithography + Patterning
Deze dummy-inhoud zet Advanced Lithography + Patterning neer als een technisch sterk evenement rond lithografie, patroonvorming en de precisie die daarvoor nodig is.
Voor imec is dit een logische plek om materiaalonderzoek, metrologie en productie-inzichten kort te kaderen op een manier die geloofwaardig blijft voor een gespecialiseerd publiek.